instruction
stringlengths 17
53
| output
stringlengths 2
142
| input
stringclasses 1
value |
|---|---|---|
λ°λ³κ΄ νμ₯μ μ£Όμ μ
무λ 무μμ
λκΉ?
|
QA ν μ
무 μ΄κ΄
| |
μ€νμ΄ μμμ λ΄λΉ μ
무λ 무μμ
λκΉ?
|
QA Lab μ§μ, POQA Holding Follow-up
| |
νμμ΄ μμμ μ΄λ€ COQC λ° λ°μ΄ν° λΆμ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
Fab1 200mm/300mm Samsung Polished, 300mm Epi, 300mm Non-Samsung Polished
| |
μ μλ―Ό μ μμ μ΄λ€ COQC λ° λ°μ΄ν° λΆμ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
200mm Dongbu, Fab2 300mm Samsung Polished, 300mm Samsung Xian Polished, 300mm Inventory Sales
| |
κΉνμ§ μ μμ μ΄λ€ COQC λ° λ°μ΄ν° λΆμ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
200/300mm Ingot COA, 200mm Non-Samsung Polished
| |
μκ·νΈ μμμ μ΄λ€ Metrology κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
Cal.Lab management, MSA, Internal/External correlation, Gage & Standard management, Global Metrology Issue(WWC)
| |
λ°λ³κ· μμμ μ΄λ€ Metrology κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
xRB, COA Trend Review, Metrology (External Calibration, Metrology SPC)
| |
μ΄νμ μμμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
AI/Machine-Learning, ETCHER, SRP, Ellipsometer, DLTS, Evaporator, LST2500 (B/U), Analysis Outsourcing Coordinator
| |
κΉμΉμ± μμμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
GOI (Oxidation, LPCVD, Coater, Exposure, Etcher, Probe Station, 4PP, Ellipsometer), BMDS, GOI LAB (ISO14001/45001, IATF16949, PSM Coordinator)
| |
κΉνν μμμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
RTP, DSOD, Furnace, Cross-Site Fan-out, PSM coordinator, IQC Support
| |
μ¬μ°μ μμμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
SEM/EDX, SPV, FTIR, 4PP
| |
μ¬νκ΅ μμμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
ICP-MS, VPD ICP-MS, Ion Chromatography, LTOD, Bulk Digestion, PUTP, AFM, Chapman
| |
κΉμμ μ μμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
LST2500, SIRD, Furnace (B/U), Ellipsometer (B/U), SRP (B/U), Evaporator (B/U), DLTS (B/U), Etcher(B/U)
| |
ν©νκΈ° μ¬μμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
Failure Analysis, Angle Polisher, SEM/EDX (B/U), Chapman (B/U), AFM (B/U), SRP (B/U)
| |
μμ§μ μ¬μμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
GOI (Oxidation, LPCVD, Coater, Exposure, Etcher, Probe Station), BMDS
| |
AI/λ¨Έμ λ¬λ μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μ΄νμ μμ
| |
SEM/EDX μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μ¬μ°μ μμ, ν©νκΈ° μ¬μ
| |
LST2500 μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμμ μ μ
| |
SRP μ₯λΉμ λ°±μ
λ΄λΉμλ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμμ μ μ, ν©νκΈ° μ¬μ
| |
μ¬μ± μ°κ΅¬μμ΄ λ΄λΉνλ COQC μ
무λ 무μμ΄ μμ΅λκΉ?
|
νμμ΄ μμ, μ μλ―Ό μ μ, κΉνμ§ μ μμ μ
무
| |
λ°λ³κ΄ νμ₯μ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
νμμ΄ μμμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
μ¬μ
| |
μμ§μ μ¬μμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
κΉνν λμ μ§κΈμ 무μμ
λκΉ?
|
μμ
| |
ν©νκΈ° λμ μ§κΈμ 무μμ
λκΉ?
|
μ¬μ
| |
GOI κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμΉμ± μμ, μμ§μ μ¬μ
| |
Cross-Site Fan-out μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉνν μμ
| |
Failure Analysis μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
ν©νκΈ° μ¬μ
| |
PSM μ‘°μ μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμΉμ± μμ, κΉνν μμ
| |
μΈ‘μ μ₯λΉ λ° νμ€ κ΄λ¦¬λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μκ·νΈ μμ
| |
μΈλΆ κ΅μ λ° κ³μΈ‘ SPCλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
λ°λ³κ· μμ
| |
Fab1 200mm/300mm Samsung Polished μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
νμμ΄ μμ
| |
200mm Dongbu μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μ μλ―Ό μ μ
| |
200/300mm Ingot COA μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉνμ§ μ μ
| |
Cal.Lab κ΄λ¦¬λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μκ·νΈ μμ
| |
xRB μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
λ°λ³κ· μμ
| |
ETCHER μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μ΄νμ μμ, κΉμΉμ± μμ, μμ§μ μ¬μ
| |
DLTS μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μ΄νμ μμ, κΉμμ μ μ
| |
RTP μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉνν μμ
| |
SPV μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μ¬μ°μ μμ
| |
AFM μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μ¬νκ΅ μμ, ν©νκΈ° μ¬μ
| |
LPCVD μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμΉμ± μμ, μμ§μ μ¬μ
| |
Probe Station μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμΉμ± μμ, μμ§μ μ¬μ
| |
4PP μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμΉμ± μμ, μ¬μ°μ μμ
| |
FTIR μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μ¬μ°μ μμ
| |
Chapman μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μ¬νκ΅ μμ, ν©νκΈ° μ¬μ
| |
SIRD μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμμ μ μ
| |
Angle Polisher μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
ν©νκΈ° μ¬μ
| |
BMDS κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμΉμ± μμ, μμ§μ μ¬μ
| |
IQC μ§μ μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉνν μμ
| |
λ°λ³κ΄ νμ₯μ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
λ°λ³κ΄ νμ₯μ μ§κΈμ 무μμ
λκΉ?
|
νμ₯
| |
λ°λ³κ΄ νμ₯μ μ£Όμ μ
무λ 무μμ
λκΉ?
|
QA ν μ
무 μ΄κ΄
| |
μ€νμ΄ μμμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
μ€νμ΄ μμμ λ΄λΉ μ
무λ 무μμ
λκΉ?
|
QA Lab μ§μ, POQA Holding Follow-up
| |
νμμ΄ μμμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
μ¬μ
| |
νμμ΄ μμμ μ΄λ€ COQC λ° λ°μ΄ν° λΆμ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
Fab1 200mm/300mm Samsung Polished, 300mm Epi, 300mm Non-Samsung Polished
| |
μ μλ―Ό μ μμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
μ¬μ
| |
μ μλ―Ό μ μμ μ΄λ€ COQC λ° λ°μ΄ν° λΆμ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
200mm Dongbu, Fab2 300mm Samsung Polished, 300mm Samsung Xian Polished, 300mm Inventory Sales
| |
κΉνμ§ μ μμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
μ¬μ
| |
κΉνμ§ μ μμ μ΄λ€ COQC λ° λ°μ΄ν° λΆμ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
200/300mm Ingot COA, 200mm Non-Samsung Polished
| |
μκ·νΈ μμμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
μκ·νΈ μμμ μ΄λ€ Metrology κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
Cal.Lab management, MSA, Interna/External correlation, Gage & Standard management, Global Metrology Issue(WWC)
| |
λ°λ³κ· μμμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
λ°λ³κ· μμμ μ΄λ€ Metrology κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
xRB, COA Trend Review, Metrology (External Calibration, Metrology SPC)
| |
μ΄νμ μμμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
μ΄νμ μμμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
AI/Machine-Learning, ETCHER, SRP, Ellipsometer, DLTS, Evaporator, LST2500 (B/U), Analysis Outsourcing Coordinator
| |
κΉμΉμ± μμμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
κΉμΉμ± μμμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
GOI (Oxidation, LPCVD, Coater, Exposure, Etcher, Probe Station, 4PP, Ellipsometer), BMDS, GOI LAB (ISO14001/45001, IATF16949, PSM Coordinator)
| |
κΉνν μμμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
κΉνν μμμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
RTP, DSOD, Furnace, Cross-Site Fan-out, PSM coordinatior, IQC Support
| |
μ¬μ°μ μμμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
μ¬μ°μ μμμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
SEM/EDX, SPV, FTIR, 4PP
| |
μ¬νκ΅ μμμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
μ¬νκ΅ μμμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
ICP-MS, VPD ICP-MS, Ion Chromatography, LTOD, Bulk Digestion, PUTP, AFM, Chapman
| |
κΉμμ μ μμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
μ¬μ
| |
κΉμμ μ μμ μ§κΈμ 무μμ
λκΉ?
|
μ μ
| |
κΉμμ μ μμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
LST2500, SIRD, Furnace (B/U), Ellipsometer (B/U), SRP (B/U), Evaporator (B/U), DLTS (B/U), Etcher(B/U)
| |
ν©νκΈ° μ¬μμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
ν©νκΈ° μ¬μμ μ§κΈμ 무μμ
λκΉ?
|
μ¬μ
| |
ν©νκΈ° μ¬μμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
Failure Analysis, Angle Polisher, SEM/EDX (B/U), Chapman (B/U), AFM (B/U), SRP (B/U)
| |
μμ§μ μ¬μμ μ±λ³μ 무μμ
λκΉ?
|
λ¨μ
| |
μμ§μ μ¬μμ μ§κΈμ 무μμ
λκΉ?
|
μ¬μ
| |
μμ§μ μ¬μμ μ΄λ€ Quality Engineering κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉν©λκΉ?
|
GOI (Oxidation, LPCVD, Coater, Exposure, Etcher, Probe Station), BMDS
| |
AI/λ¨Έμ λ¬λ μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μ΄νμ μμ
| |
SEM/EDX μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μ¬μ°μ μμ
| |
LST2500 μ₯λΉλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμμ μ μ
| |
SRP μ₯λΉμ λ°±μ
λ΄λΉμλ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμμ μ μ, ν©νκΈ° μ¬μ
| |
μ¬μ± μ°κ΅¬μμ΄ λ΄λΉνλ COQC μ
무λ 무μμ΄ μμ΅λκΉ?
|
νμμ΄ μμ, μ μλ―Ό μ μ, κΉνμ§ μ μμ μ
무
| |
GOI κ΄λ ¨ μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμΉμ± μμ, μμ§μ μ¬μ
| |
Cross-Site Fan-out μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉνν μμ
| |
Failure Analysis μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
ν©νκΈ° μ¬μ
| |
PSM μ‘°μ μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉμΉμ± μμ, κΉνν μμ
| |
μΈ‘μ μ₯λΉ λ° νμ€ κ΄λ¦¬λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μκ·νΈ μμ
| |
μΈλΆ κ΅μ λ° κ³μΈ‘ SPCλ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
λ°λ³κ· μμ
| |
Fab1 200mm/300mm Samsung Polished μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
νμμ΄ μμ
| |
200mm Dongbu μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
μ μλ―Ό μ μ
| |
200/300mm Ingot COA μ
무λ₯Ό λ΄λΉνλ μ¬λμ λꡬμ
λκΉ?
|
κΉνμ§ μ μ
| |
QA νμ μ΄ μΈμμ λͺ λͺ
μΈκ°μ ?
|
QA νμ μ΄ μΈμμ 13 λͺ
μ
λλ€.
| |
QA νμ μ¬μ μ¬μμ μ΄ μΈμμ λͺ λͺ
μΈκ°μ ?
|
QA νμ μ¬μ μ¬μμ μ΄ μΈμμ 4 λͺ
μ
λλ€.
|
README.md exists but content is empty.
- Downloads last month
- -